両端のデバイスで使用される光モジュールは通信を確立するために同じ波長を放射する必要があるため、メーカーは出荷前に光モジュールの波長をテストして、それが偏差範囲内であることを確認する必要があります。
一般に、製造業者は光スペクトルアナライザーやその他の機器を使用して光モジュールの中心波長を測定しますが、測定された光モジュールの中心波長は通常、標準値から逸脱しています。異なるタイプの光モジュールは異なる偏差を持ちますが、偏差が許容範囲内である限り。
たとえば、SFP-10G-LR光モジュールの中心波長は1310nmであり、その偏差は±50nmであり、SFP-10G-SR光モジュールの中心波長は850nmであり、その偏差は±10nmです。 DWDM-SFP10G-40光モジュールの中心波長は1560.61 nmで、その偏差は±0.8 nmです。テストした値が標準仕様と一致しない場合、光学モジュールは不良品と見なされます。
さらに、光モジュールは、極低温テスト、高温および低温サイクルテスト、および一定の湿熱テストを受ける必要があります。光モジュールが正常に機能している限り、そのコンポーネントには、ずれや損傷がなく、ハウジングパッケージは破損していません。そして光学インターフェイスの表示器は技術的要件を満たしています。これは、光モジュールがテストに合格したことを意味します。
光トランシーバーの他の重要なテスト
同時に、光モジュールの安定性を確保するために、高温劣化試験、実機試験、インターフェース試験も必要です。
